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DLTS设备选型指南:如何选择适合你的DLTS系统?
2025-03-07
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半导体宽禁带材料(SiC、GaN、Ga2O3)缺陷研究:DLTS提供了哪些独特视角?
2025-03-07
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光DLTS、电流DLTS、电容DLTS:如何选择合适的DLTS方法?
2025-03-07
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如何精准测量深能级?DLTS实验设计全攻略
2025-03-07
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深能级瞬态谱(DLTS):揭开半导体缺陷检测的神秘面纱
2025-03-07
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DLTS vs. 其他缺陷表征技术:为何DLTS不可替代?
2025-03-07
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半导体材料中的“隐形杀手”:深能级缺陷如何影响器件性能?
2025-03-07
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MFIA的“特异功能”——测量接地元件的阻抗
MFIA是一款高精度阻抗分析仪。它测量电压、电流和相位以计算阻抗。与大多数阻抗分析仪一样,测量电路的设计使被测设备(DUT)在浮动条件下运行,这意味着DUT的所有端子都没有接地。此配置可确保通过DUT的任何电流都将通过MFIA的电流输入端子,并且没有额外的杂散电流路径。
在测量接地元件时,DUT不再处于浮动状态:这对于大多数阻抗分析仪来说都是有问题的。借助MFIA,我们可以修改测量设置,使其适合测量接地组件。当DUT集成到更大的电路中时(例如在诊断测量期间),或者在另一种情况下,当必须测量大型DUT并且无法轻易地从(电气)接地中移除时,可能需要进行此类测量。2024-08-19
