-
半导体宽禁带材料(SiC、GaN、Ga2O3)缺陷研究:DLTS提供了哪些独特视角?
2025-03-07
-
光DLTS、电流DLTS、电容DLTS:如何选择合适的DLTS方法?
2025-03-07
-
如何精准测量深能级?DLTS实验设计全攻略
2025-03-07
-
深能级瞬态谱(DLTS):揭开半导体缺陷检测的神秘面纱
2025-03-07
-
DLTS与其他缺陷表征技术的差异及互补关系
2025-03-07
-
半导体材料中的“隐形杀手”:深能级缺陷如何影响器件性能?
2025-03-07
-
MFIA的“特异功能”——测量接地元件的阻抗
MFIA是一款高精度阻抗分析仪。它测量电压、电流和相位以计算阻抗。与大多数阻抗分析仪一样,测量电路的设计使被测设备(DUT)在浮动条件下运行,这意味着DUT的所有端子都没有接地。此配置可确保通过DUT的任何电流都将通过MFIA的电流输入端子,并且没有额外的杂散电流路径。
在测量接地元件时,DUT不再处于浮动状态:这对于大多数阻抗分析仪来说都是有问题的。借助MFIA,我们可以修改测量设置,使其适合测量接地组件。当DUT集成到更大的电路中时(例如在诊断测量期间),或者在另一种情况下,当必须测量大型DUT并且无法轻易地从(电气)接地中移除时,可能需要进行此类测量。2024-08-19
-
超过300GΩ的电化学阻抗谱测量
MFIA阻抗分析仪非常适合执行高达1TΩ的测量,即使对于复杂的 DUT,例如离子导电薄膜,这些电阻值出现在低温下。LabOne Sweeper 模块可用于构建波特图和奈奎斯特图,后者对 EIS 的信息量最大。绘图仪模块可用于检查被测设备上是否存在良好的接触以及是否达到稳定状态。
2024-08-19
