LT-8000 深能级瞬态谱仪DLTS成功交付华东高校｜钙钛矿光伏深度缺陷 + 离子迁移率全维分析，一机到位

近日，索相科技（上海）有限公司成功向华东地区某重点高校交付 LT-8000 深能级瞬态谱仪（DLTS），用于钙钛矿太阳能电池材料及器件的缺陷机理研究。该系统集成 DLTS、驱动电平电容谱（DLCP）、热导纳谱（TAS）及离子迁移率测试与计算等多种电学谱分析功能，并配备 80–450 K 全自动温控系统与自动化数据分析软件，可对钙钛矿器件中的深能级缺陷、界面态分布、热激活陷阱行为及离子迁移动力学进行系统化表征。交付过程中，设备完成全部功能调试与现场测试，数据稳定、性能可靠。该案例进一步验证了 LT-8000 在钙钛矿光伏及新型半导体材料缺陷分析中的应用价值，为高校科研平台建设和前沿材料研究提供了有力支撑。

넶295 2025-12-26
国产深能级瞬态谱仪（DLTS）LT-8000 正式发布，助力第三代及超宽禁带半导体缺陷表征

索相科技（上海）有限公司正式发布新一代国产深能级瞬态谱仪（DLTS）——LT-8000。该设备面向第三代及超宽禁带半导体材料与器件的缺陷表征需求，适用于 Si、GaAs、GaN、SiC、Ga₂O₃ 及钙钛矿等多种材料体系。LT-8000 深能级瞬态谱仪集成 DLTS、DLCP 与热导纳谱（TAS）等多种电学谱分析手段，可对半导体材料中的深能级缺陷、界面态及载流子动力学行为进行系统研究。通过高灵敏度电容测量、宽温区扫描及多测试模式配置，LT-8000 能够为新型半导体材料、功率器件与光电器件的可靠性研究提供精确、稳定的数据支持。作为国产 DLTS 仪器的重要代表，LT-8000 为高校科研平台及重大科研项目提供了具有自主可控优势的深能级缺陷测试解决方案。

넶23 2025-12-26
LT-8000 深能级瞬态谱仪在钙钛矿器件中的 DLTS / DLCP / TAS 应用案例

在钙钛矿光电器件研究中，深能级缺陷、界面态及载流子动力学行为对器件效率与稳定性具有决定性影响。LT-8000 深能级瞬态谱仪通过集成 DLTS、驱动电平电容谱（DLCP）与热导纳谱（TAS）等多种电学谱测试手段，为钙钛矿器件缺陷表征提供了系统化解决方案。通过温度扫描与频率响应分析，LT-8000 可对钙钛矿器件中的深能级能级位置、缺陷浓度、空间分布及动力学特性进行多维度解析。DLTS、DLCP 与 TAS 的协同应用，使研究人员能够更全面地理解缺陷对器件性能与稳定性的影响。该应用案例验证了 LT-8000 在新型半导体材料研究中的实用性与可靠性，为钙钛矿及第三代半导体器件缺陷分析提供了有力的实验支撑。

넶14 2025-12-26
索相科技亮相“2025第三届智能材料与光电子器件研讨会”，展示 LT-8000 多维缺陷表征解决方案

2025 年 5 月 16 日至 18 日，第三届智能材料与光电子器件研讨会在浙江宁波举行。索相科技（上海）有限公司受邀参会，围绕半导体新材料与光电子器件缺陷表征技术，展示了自主研发的 LT-8000 深能级瞬态谱仪及其多维缺陷分析解决方案。会议期间，索相科技市场部作了题为《多维缺陷特性表征方法在半导体新材料器件研究中的应用探索——基于 DLTS、DLCP、TAS 协同体系》的专题报告，系统介绍了深能级瞬态谱、驱动电平电容谱与热导纳谱在缺陷能级解析、空间分布及动力学研究中的协同应用价值。相关内容获得与会专家的广泛关注，进一步展示了 LT-8000 在新型半导体材料与器件研究中的应用潜力与技术优势。

넶23 2025-12-26
2025“材料科学与智能制造研讨会”在长沙成功举行，索相科技深能级瞬态谱仪DLTS LT-8000多维缺陷表征亮相

本文报道了2025“材料科学与智能制造研讨会”上，索相科技（上海）有限公司展示自主研发的LT-8000深能级瞬态谱仪（DLTS）及其多技术协同测试解决方案的情况。文章重点介绍了LT-8000通过集成DLTS、DLCP与TAS技术，实现半导体器件缺陷的多维度表征，包括缺陷能级、空间分布及热激活动力学特性等。通过多维表征能力，LT-8000为钙钛矿、GaN、氧化镓及二维材料等新型半导体器件的优化设计与可靠性研究提供了强有力的数据支撑，并在展会现场获得专家学者的高度认可。

넶27 2025-12-26

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