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PST6747A半导体参数测试仪

测试对象涵盖：Si\SiC\GaN材料制备的IGBT及模块、MOSFET、二极管、三极管、功率IC等
测试功能涵盖：动态、静态、可靠性/CP、WAT、FT
测试功能：IV、CV
测试范围：10kV/2.2kA
主要测试参数：电流分辨率fA级

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IST 8910/8920 半导体元件自动测试系统及图示仪

真正一台完整并且有绝佳”性能/价格比”的半导体元件自动测试系统，能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率的多种半导体元件
• 可检测12种半导体元件达137个参数
• 具自我校正及自我系统故障诊测之功能
• 采用视窗7的触控屏幕计算机及易操作的软件设计
• 测试程式可储存及回复使用
• 量测MOSFETs及IGBTs各介面的电容值及栅极的输入阻抗
• 具备有图示仪各种特性曲线的绘图软件
• 提供全自动参数上的测量．并判别其好坏
• 恒温控制的功能可加热被测件至250度C
• 专用的各种测试工装，快速便捷的测试各种大功率的模块元件
• 具机械手介面可供晶圆或成品量产测试
• 提供6合1，IGBTs模组测试选件
• 可滑动的机柜设计以便维修调试或升级
• 安全启动测试的功能，防止使用者因误启动而触电
• 任何接脚有误，损坏或不对的元件及测试座的错误，均可在启动测试前的瞬间，安全快速的检测到而停止测试
• USB接口，可同时外接打印机，键盘，与鼠标
• 提供精确的”凯文”测量回路，或可自动校准的”非凯文”测量
• 测试脉冲10us~300us，完全可调

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OE4000激光线宽/相位噪声分析仪采用零差方法，可对超低相位噪声连续激光源进行全自动测量。

OE4000激光线宽/相位噪声分析仪能够快速测量激光相位噪声并估计其低至 < 3 Hz 的 FWHM 线宽，可扩展至各种输入波段，并提供低相对强度噪声（RIN）测量选项。这种基于零差的系统在宽带测量中是独一无二的，无需另一个低噪声参考激光源。整个系统通过嵌入式 PC 上的简单图形用户界面轻松、快速、精确地运行，无需额外的测试设备。

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Tektronix Keithley 4200A-SCS 半导体参数分析仪

4200A-SCS 是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪，可以同步查看电流电压 (I-V)、电容电压 (C-V)
和超快速脉冲式 I-V 特性。作为性能最高的参数分析仪，4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。
4200A-SCS ClariusTM 基于 GUI 的软件提供了清楚的、不折不扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时
可以投入使用的应用测试，Clarius Software 可以更深入地挖掘研究过程，快速而又满怀信心。4200A-SCS 参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配
置，不管是现在还是未来，都可以随时对系统进行升级。通过4200A-SCS 参数分析仪，通往发现之路现在变得异常简便。

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STT-300S 雪崩直流测试一体机

体积小巧，功能强大，使用方便，是功率器件工程师的好帮手。
经典配置:
UIL3K200(3KV/200A,配上0.01mH-160mHinductor box 可调电感箱或定制电感能够覆盖3KV/200A以内的各种雪崩测试)
DDC3K200(可以覆盖3KV/200A以内各种直流参数的测试)
方便工程师可以在测试雪崩参数前后观察直流参数的变化，更好的把握产品特性支持EAS/EAR/RPF等测试模式。
共6个插槽 (slots)，也可选配下页各模块,实现其他动态功能的测试，，一机多用超高性价比，欢迎咨询

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IWATSU CS-8000半导体曲线图示仪

集漏电流与大电流为一台可自动测试
适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

最大5kV、最大2000A的大功率测试
正确的微电流测量　(分辨率250fA）
大画面12.1英寸触摸屏幕
多种GATE信号输出功能
充实的温度特性测量选配件
探测台上的大功率晶圆测试
适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号

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IWATSU CS-10000系列半导体曲线图示仪

集漏电流与大电流为一台可自动测试
适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

超高电压・大电流　在 CS-3100 基础上加载 UHV 与 HC
CS-10400 系列（10kV ～）: 15kV、8,000A
适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号

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IWATSU CS-3000半导体曲线图示仪

集漏电流与大电流为一台可自动测试
适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

CS-3000 系列（3kV）:3kV,　～ 1,000A
适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号

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IWATSU CS-5000半导体曲线图示仪

集漏电流与大电流为一台可自动测试
适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

CS-5000 系列: 5kV,　～ 1,500A
CS-5000 系列（5kV）最适合于测试耐压 3,300V 的功率模块的衰减特性

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