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  • PST6747A半导体参数测试仪
    测试对象涵盖:Si\SiC\GaN材料制备的IGBT及模块、MOSFET、二极管、三极管、功率IC等
    测试功能涵盖:动态、静态、可靠性/CP、WAT、FT
    测试功能:IV、CV
    测试范围:10kV/2.2kA
    主要测试参数:电流分辨率fA级
    ¥ 0.00

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  • IST 8910/8920 半导体元件自动测试系统及图示仪
    真正一台完整并且有绝佳”性能/价格比”的半导体元件自动测试系统,能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率的多种半导体元件
    •  可检测12种半导体元件达137个参数
    •  具自我校正及自我系统故障诊测之功能
    •  采用视窗7的触控屏幕计算机及易操作的软件设计
    •  测试程式可储存及回复使用
    •  量测MOSFETs及IGBTs各介面的电容值及栅极的输入阻抗
    •  具备有图示仪各种特性曲线的绘图软件
    •  提供全自动参数上的测量.并判别其好坏
    •  恒温控制的功能可加热被测件至250度C
    •  专用的各种测试工装,快速便捷的测试各种大功率的模块元件
    •  具机械手介面可供晶圆或成品量产测试
    •  提供6合1,IGBTs模组测试选件
    •  可滑动的机柜设计以便维修调试或升级
    •  安全启动测试的功能,防止使用者因误启动而触电
    • 任何接脚有误,损坏或不对的元件及测试座的错误,均可在启动测试前的瞬间,安全快速的检测到而停止测试
    • USB接口,可同时外接打印机,键盘,与鼠标
    •  提供精确的”凯文”测量回路,或可自动校准的”非凯文”测量
    •  测试脉冲10us~300us,完全可调
    ¥ 0.00

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  • OE4000激光线宽/相位噪声分析仪采用零差方法,可对超低相位噪声连续激光源进行全自动测量。
    OE4000激光线宽/相位噪声分析仪能够快速测量激光相位噪声并估计其低至 < 3 Hz 的 FWHM 线宽,可扩展至各种输入波段,并提供低相对强度噪声 (RIN) 测量选项。这种基于零差的系统在宽带测量中是独一无二的,无需另一个低噪声参考激光源。整个系统通过嵌入式 PC 上的简单图形用户界面轻松、快速、精确地运行,无需额外的测试设备。
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  • Tektronix Keithley 4200A-SCS 半导体参数分析仪
    4200A-SCS 是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪,可以同步查看电流电压 (I-V)、电容电压 (C-V)
    和超快速脉冲式 I-V 特性。作为性能最高的参数分析仪,4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。
    4200A-SCS ClariusTM 基于 GUI 的软件提供了清楚的、不折不扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时
    可以投入使用的应用测试,Clarius Software 可以更深入地挖掘研究过程,快速而又满怀信心。4200A-SCS 参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配
    置,不管是现在还是未来,都可以随时对系统进行升级。通过4200A-SCS 参数分析仪,通往发现之路现在变得异常简便。
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  • STT-300S 雪崩直流测试一体机
    体积小巧,功能强大,使用方便,是功率器件工程师的好帮手。
    经典配置:
    UIL3K200(3KV/200A,配上0.01mH-160mHinductor box 可调电感箱或定制电感能够覆盖3KV/200A以内的各种雪崩测试)
    DDC3K200(可以覆盖3KV/200A以内各种直流参数的测试)
    方便工程师可以在测试雪崩参数前后观察直流参数的变化,更好的把握产品特性支持EAS/EAR/RPF等测试模式。
    共6个插槽 (slots),也可选配下页各模块,实现其他动态功能的测试,,一机多用超高性价比,欢迎咨询
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  • IWATSU CS-8000半导体曲线图示仪
    集漏电流与大电流为一台 可自动测试
    适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

    最大5kV、最大2000A的大功率测试
    正确的微电流测量 (分辨率250fA)
    大画面12.1英寸触摸屏幕
    多种GATE信号输出功能
    充实的温度特性测量选配件
    探测台上的大功率晶圆测试
    适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号
    ¥ 0.00

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  • IWATSU CS-10000系列半导体曲线图示仪
    集漏电流与大电流为一台 可自动测试
    适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

    超高电压・大电流 在 CS-3100 基础上加载 UHV 与 HC
    CS-10400 系列(10kV ~): 15kV、8,000A  
    适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号
    ¥ 0.00

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  • IWATSU CS-3000半导体曲线图示仪
    集漏电流与大电流为一台 可自动测试
    适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

    CS-3000 系列(3kV):3kV, ~ 1,000A
    适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号
    ¥ 0.00

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  • IWATSU CS-5000半导体曲线图示仪
    集漏电流与大电流为一台 可自动测试
    适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

    CS-5000 系列: 5kV, ~ 1,500A
    CS-5000 系列(5kV)最适合于测试耐压 3,300V 的功率模块的衰减特性
    ¥ 0.00

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