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STT-300S 雪崩直流测试一体机

体积小巧，功能强大，使用方便，是功率器件工程师的好帮手。
经典配置:
UIL3K200(3KV/200A,配上0.01mH-160mHinductor box 可调电感箱或定制电感能够覆盖3KV/200A以内的各种雪崩测试)
DDC3K200(可以覆盖3KV/200A以内各种直流参数的测试)
方便工程师可以在测试雪崩参数前后观察直流参数的变化，更好的把握产品特性支持EAS/EAR/RPF等测试模式。
共6个插槽 (slots)，也可选配下页各模块,实现其他动态功能的测试，，一机多用超高性价比，欢迎咨询

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IWATSU CS-8000半导体曲线图示仪

集漏电流与大电流为一台可自动测试
适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

最大5kV、最大2000A的大功率测试
正确的微电流测量　(分辨率250fA）
大画面12.1英寸触摸屏幕
多种GATE信号输出功能
充实的温度特性测量选配件
探测台上的大功率晶圆测试
适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号

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IWATSU CS-10000系列半导体曲线图示仪

集漏电流与大电流为一台可自动测试
适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

超高电压・大电流　在 CS-3100 基础上加载 UHV 与 HC
CS-10400 系列（10kV ～）: 15kV、8,000A
适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号

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IWATSU CS-3000半导体曲线图示仪

集漏电流与大电流为一台可自动测试
适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

CS-3000 系列（3kV）:3kV,　～ 1,000A
适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号

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IWATSU CS-5000半导体曲线图示仪

集漏电流与大电流为一台可自动测试
适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试

CS-5000 系列: 5kV,　～ 1,500A
CS-5000 系列（5kV）最适合于测试耐压 3,300V 的功率模块的衰减特性

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IWATSU CS系列半导体曲线图示仪

集漏电流与大电流为一台可自动测试
适用于无论大小容量的 IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试
CS-10000 系列 :10kV ～ 15kV,　～ 8,000A
CS-5000 系列: 5kV,　～ 1,500A
CS-3000 系列: 3kV,　～ 1,000A

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STT-700 模拟/混合IC测试机

迄今为止唯一能把模拟/混合IC测试模块和分立器件测试模块完全兼容于同一个机箱插槽的测试仪，可以灵活配置来测试各类模拟及功率器件。在通用模拟VI的设计上，我们除了整合如音频等多种功能外，还设计了在板实时自动诊断功能，能够确保VI源长时间的小电压测试精度小于0.6mv，完美解决了模拟晶圆fuse trim前，对小电压信号进行长期稳定高精度测试的需求。

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SOC测试机 NST1625/1625L 512/1280数字通道，最大500MHz

NST1625/1625L
Max.512/1280ch Air Cooling System
最多512/1280 数字通道风冷系统
最大500MHz

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FOX-NP 适用于逻辑/存储器/光子/电源设备的紧凑型高功率测试和可靠性验证解决方案

紧凑灵活的解决方案，用于高吞吐量可靠性验证和测试

处理整个晶圆/面板/单片芯片/模块应用

在最终封装集成之前确定发生故障的逻辑/存储器/光子管芯

使用WaferPak™接触器或DiePak®的大功率热卡盘双刀片（插槽）功能

托架（用于单个管芯/模块）

高功率晶圆/芯片/模块验证和测试的经济高效解决方案

每个刀片服务器（插槽）的可配置通道资源：通用通道模块，高压

通道模块或大电流通道模块

每个刀片具有多达2,048个“通用通道”资源：（I / O /时钟/ PPMU / DPS）

每通道扫描，模式化数据并捕获内存，以通过BIST / DFT测试设备

每个刀片最多可提供1,024个高压（29 V）或大电流（2 A）的资源

经过生产验证的全晶圆可靠性验证和测试解决方案

通过在可靠性验证过程中对晶圆/芯片/模块进行功能测试来降低测试成本

当配置有WaferPak接触器/ DiePak托架和Wafer时，可提供整体解决方案

对准器/ DiePak装载机

通过每个通道的个别过流和过压保护来保护设备

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