The Proforma 300iSA is a desktop, semi-automated wafer measurement system for semi-conducting and semi-insulating materials.

Using MTI's proprietary non-contact capacitance probes, the Proforma 300i is fast, accurate and reliable. The Proforma 300i is capable of measuring wafer up to 300mm in diameter for thickness, total thickness variation (TTV) and bow.

体积小巧，功能强大，使用方便
可同时配置:
 UIL3K200(3KV/200A, 配上0.01mH – 160mH inductor 可调电感箱， 能够覆盖3KV/200A以内的雪崩测试)
DDC3K200(可以覆盖3kV/200A以内各种直流参数的测试）
方便工程师可以在测试雪崩参数前后观察直流参数的变化，更 好的把握产品特性，支持EAS/EAR/RPF等测试模式。
共6个插槽（slots），也可选配下页各模块,实现其他功能的测试
一机多用，欢迎咨询，随时demo

数字频率响应分析仪
频率范围：10uHz - 5/20/40MHz

强大 - 高达 90 瓦和 5 安培

灵活 - 混合搭配 10 个通道配置

性能 - EIS 每通道高达 200kHz

高采样率 - 高达 200 kHz 的数据采集率

可扩展——随着测试需求的变化升级/增加测试能力 

双通道经济型频率响应分析仪

频率范围：1Hz-40MHz

通道数：2

频率范围：1Hz-40MHz（正弦波）

每千倍频采样点：2000点

输出幅度：10Vp-p；