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  • Venable 6300系列频率响应分析仪
    双通道频率响应分析仪
    频率范围:10uHz - 5/20/40MHz
    通道数:2

    频率范围:10uHz-40MHz(正弦波)

    每千倍频采样点:2000点

    通道隔离:600Vp-p;

    输出幅度:10Vp-p;
    ¥ 0.00

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  • Venable 350C系列频率响应分析仪
    三通道频率响应分析仪
    频率范围:10uHz-5/20/40MHz
    ¥ 0.00

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  • Venable 8800系列 频率响应分析仪
    数字频率响应分析仪
    频率范围:10uHz - 5/20/40MHz
    ¥ 0.00

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  • Venable 7400系列 频率响应分析仪
    四通道频率响应分析仪
    频率范围:10uHz - 5/20/40MHz
    ¥ 0.00

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  • PST6747A半导体参数测试仪
    测试对象涵盖:Si\SiC\GaN材料制备的IGBT及模块、MOSFET、二极管、三极管、功率IC等
    测试功能涵盖:动态、静态、可靠性/CP、WAT、FT
    测试功能:IV、CV
    测试范围:10kV/2.2kA
    主要测试参数:电流分辨率fA级
    ¥ 0.00

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  • IST 8910/8920 半导体元件自动测试系统及图示仪
    真正一台完整并且有绝佳”性能/价格比”的半导体元件自动测试系统,能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率的多种半导体元件
    •  可检测12种半导体元件达137个参数
    •  具自我校正及自我系统故障诊测之功能
    •  采用视窗7的触控屏幕计算机及易操作的软件设计
    •  测试程式可储存及回复使用
    •  量测MOSFETs及IGBTs各介面的电容值及栅极的输入阻抗
    •  具备有图示仪各种特性曲线的绘图软件
    •  提供全自动参数上的测量.并判别其好坏
    •  恒温控制的功能可加热被测件至250度C
    •  专用的各种测试工装,快速便捷的测试各种大功率的模块元件
    •  具机械手介面可供晶圆或成品量产测试
    •  提供6合1,IGBTs模组测试选件
    •  可滑动的机柜设计以便维修调试或升级
    •  安全启动测试的功能,防止使用者因误启动而触电
    • 任何接脚有误,损坏或不对的元件及测试座的错误,均可在启动测试前的瞬间,安全快速的检测到而停止测试
    • USB接口,可同时外接打印机,键盘,与鼠标
    •  提供精确的”凯文”测量回路,或可自动校准的”非凯文”测量
    •  测试脉冲10us~300us,完全可调
    ¥ 0.00

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  • Venable 9X50 系列 运动控制频率响应分析仪
    Venables 9X50系列运动控制频率响应分析仪扩展了领先的模拟和数字技术,增加了载波调制和解调能力,增强了振荡器输出,在改变频率或幅度时没有间断,以及可编程的单脉冲振荡器输出,以支持运动控制应用(机电伺服回路)。

    所有9X50型号均具有10uHz至500kHz增益相位测量带宽和多达4个输入通道,保护到600 Vpk。
    ¥ 0.00

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  • Proforma-300iSA
    The Proforma 300iSA is a desktop, semi-automated wafer measurement system for semi-conducting and semi-insulating materials.
    ¥ 0.00

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  • Proforma 300i
    Using MTI's proprietary non-contact capacitance probes, the Proforma 300i is fast, accurate and reliable. The Proforma 300i is capable of measuring wafer up to 300mm in diameter for thickness, total thickness variation (TTV) and bow.
    ¥ 0.00

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