MFIA的“特异功能”——测量接地元件的阻抗
MFIA是一款高精度阻抗分析仪。它测量电压、电流和相位以计算阻抗。与大多数阻抗分析仪一样，测量电路的设计使被测设备（DUT）在浮动条件下运行，这意味着DUT的所有端子都没有接地。此配置可确保通过DUT的任何电流都将通过MFIA的电流输入端子，并且没有额外的杂散电流路径。
在测量接地元件时，DUT不再处于浮动状态：这对于大多数阻抗分析仪来说都是有问题的。借助MFIA，我们可以修改测量设置，使其适合测量接地组件。当DUT集成到更大的电路中时（例如在诊断测量期间），或者在另一种情况下，当必须测量大型DUT并且无法轻易地从（电气）接地中移除时，可能需要进行此类测量。
2024-08-19
超过300GΩ的电化学阻抗谱测量
MFIA阻抗分析仪非常适合执行高达1TΩ的测量，即使对于复杂的 DUT，例如离子导电薄膜，这些电阻值出现在低温下。LabOne Sweeper 模块可用于构建波特图和奈奎斯特图，后者对 EIS 的信息量最大。绘图仪模块可用于检查被测设备上是否存在良好的接触以及是否达到稳定状态。
2024-08-19
使用MFIA在超低频下进行快速阻抗测量
在低至1mHz的频率下进行阻抗测量可能需要大量时间进行多点扫描。MFIA阻抗分析仪允许从1mHz到5MHz的扫描，可自由选择最多 100000 个点数。在 MFIA 的标准模式下，1mHz到5MHz扫描200个点通常需要20小时，这是一个较长的时间，但是对于需要低频的应用（例如超级电容器的表征），这些测试参数的获取又至关重要，因此为了实现更快的扫描，同时将测量精度保持在可接受的水平，我们在MFIA（以及带有MF-IA选项的MFLI）上引入了一项新功能：现在只需一个周期即可测量低于用户可选频率阈值的每个阻抗数据点，从而大大缩短了扫描的采集时间。这种技术适用于在整个正弦周期内显示线性行为的被测器件。
2024-08-19
使用MFIA阻抗分析仪进行直流I-V扫描测试
使用MFIA阻抗分析仪表征组件和材料的阻抗是必须通过交流信号完成的。但是，MFIA和MFLI也可以进行直流测量。本文展示了如何使用该仪器进行直流I-V测量，并重点介绍了为获得最佳结果而需要考虑的几点因素。
2024-08-19
阻抗分析仪与LCR仪表的区别
LCR表和阻抗分析仪在本质上是相似的，因为它们都测量阻抗参数，如电容、电感和电阻。它们通过测量相位敏感的电压电流比来实现这一点。该比率给出了基本阻抗值，例如绝对阻抗和相位，以及阻抗的实部和虚部。
根据这些基本值，可以通过应用用户定义的等效电路模型来推导阻抗参数。这些参数包括电容、电感和电阻（因此得名LCR表）。此外，还可以推导出其他参数，包括Q因数、耗散和电导。
2024-08-19
使用苏黎世仪器的MFIA进行压电材料的阻抗测量
2024-04-02
使用苏黎世仪器的MFIA进行肖特基二极管在可变温度下的电容瞬态测量
2024-04-02
使用树莓派电脑进行苏黎世仪器的MFIA控制入门
2024-04-02
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